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 Thermal Dehydrogenation Impact on Positive Bias Stability of Amorphous InSnZnO Thin-Film Transistors 热脱氢对非晶InSnZnO薄膜晶体管正偏压稳定性的影响
相关领域
材料科学
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Sein Lee; Young‐Woong Song; Jeong-Min Park; Junseo Lee; Wooho Ham; et al 出版日期：2024-07-16 |
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