Comprehensive Understanding of Fatigue, Breakdown, and Recovery Mechanism by Thickness Scaling in Hf0.5Zr0.5O2/Ge MF(I)S Capacitors for Low Writing Voltages
电容器
缩放比例
材料科学
机制(生物学)
电气工程
物理
工程类
数学
电压
几何学
量子力学
作者
Jai-Youn Jeong,Kyeol Ko,Changhwan Shin,Jae‐Hoon Han