Wafer-scale integration of layered 2D materials by adhesive wafer bonding

薄脆饼 石墨烯 材料科学 异质结 堆积 晶片键合 光子学 胶粘剂 光电子学 半导体 纳米技术 晶圆规模集成 半导体器件制造 单层 图层(电子) 物理 核磁共振
作者
Arne Quellmalz,Simon Sawallich,Maximilian Prechtl,Oliver Hartwig,Georg S. Duesberg,Max C. Lemme,Frank Niklaus,Kristinn B. Gylfason
标识
DOI:10.1117/12.2605116
摘要

The integration of atomically thin materials into semiconductor and photonic foundries is crucial for their use in commercial devices. However, current integration approaches are not compatible with industrial processing on wafer level, which is one of the bottlenecks hindering the breakthrough of 2D materials. Here, we present a generic methodology for the large-area transfer of 2D materials and their heterostructures by adhesive wafer bonding for use at the back end of the line (BEOL). Our approach exclusively uses processes and materials readily available in most largescale semiconductor manufacturing lines. Experimentally, we demonstrated the transfer of CVD graphene from Cu foils to 100-mm-diameter silicon wafers, the stacking of two monolayers of graphene to 2-layer graphene, and the formation of MoS2/graphene heterostructures by two consecutive transfers. We expect that our methodology is an important step towards the commercial use of 2D materials for a wide range of applications in optics and photonics.

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