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作者
Jose Manuel Sojo Gordillo,Gerard Gadea,Mercè Pacios,Marc Salleras,Denise Estrada‐Wiese,Marc Dolcet,L. Fonseca,Àlex Morata,Albert Tarancón
出处
期刊:Nanoscale
[Royal Society of Chemistry]
日期:2021-01-01
卷期号:13 (15): 7252-7265
被引量:17
摘要
Thermal conductivity measurement of integrated high aspect ratio nanostructures has been demonstrated using spatially-resolved scanning thermal microscopy. Thermal conductivities of integrated individual Si and SiGe nanowires were measured.
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