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无私鹏涛
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2025-05-30 加入
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Observation of an Interlayer in a Nano-Scale SiO<sub>2</sub> Layer on Si Substrate by X-Ray Reflectivity (XRR) Analysis
4个月前
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A simple solution to systematic errors in density determination by X-ray reflectivity: The XRR-density evaluation (XRR-DE) method
4个月前
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Observation of an Interlayer in a Nano-Scale SiO<sub>2</sub> Layer on Si Substrate by X-Ray Reflectivity (XRR) Analysis
A simple solution to systematic errors in density determination by X-ray reflectivity: The XRR-density evaluation (XRR-DE) method
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