SciHub
文献互助
期刊查询
一搜即达
科研导航
即时热点
交流社区
登录
注册
发布
文献
求助
首页
我的求助
捐赠本站
贪玩小小
Lv5
1210 积分
2023-11-01 加入
最近求助
最近应助
互助留言
Wafer-scale high-performance flexible solar-blind ultraviolet photodetectors based on a-Ga2O3 grown by MOCVD
1小时前
待确认
Electrical stress-induced charge carrier generation/trapping related degradation of HfAlO/SiO2 and HfO2/SiO2 gate dielectric stacks
5个月前
已完结
没有进行任何应助
没有进行任何互助留言
最近帖子
最近评论
没有发布任何帖子
没有发布任何评论
Wafer-scale high-performance flexible solar-blind ultraviolet photodetectors based on a-Ga2O3 grown by MOCVD
Electrical stress-induced charge carrier generation/trapping related degradation of HfAlO/SiO2 and HfO2/SiO2 gate dielectric stacks
皖公网安备34019202002308
