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Characterization Summary of Performance, Reliability, and Threshold Voltage Distribution of 3D Charge-Trap NAND Flash Memory
三维电荷陷阱NAND闪存的性能、可靠性和阈值电压分布
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期刊:ACM Transactions on Storage 作者:Weihua Liu; Fei Wu; Xiang Chen; Meng Zhang; Yu Wang; et al 出版日期:2022-03-10 |
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