Investigation of heavy-ion induced degradation and catastrophic burnout mechanism in SiC diode

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标题	Investigation of heavy-ion induced degradation and catastrophic burnout mechanism in SiC diode
网址	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S003811012...
DOI	10.1016/j.sse.2025.109184 doi
其它	期刊：Solid-State Electronics 作者：Hong Zhang; Chao Peng; Teng Ma; Zhan-Gang Zhang; Yu-Juan He; et al 出版日期：2025-06-19
求助人	桂子在 2026-05-18 15:20:53 发布自陕西，悬赏 10 积分
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