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Effect of Sizing and Scaling on Power Dissipation and Resilience of an RHBD SRAM Circuit 相关领域
消散
静态随机存取存储器
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期刊:Journal of Electronic Testing 作者:Neha Pannu; Neelam Rup Prakash; Jasbir Kaur 出版日期:2022-11-18 |
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