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 Projected performance of Si- and 2D-material-based SRAM circuits ranging from 16 nm to 1 nm technology nodes 相关领域
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期刊：Nature Nanotechnology 作者：Yu-Cheng Lu; Jing-Kai Huang; Kai-Yuan Chao; Lain-Jong Li; Vita Pi-Ho Hu 出版日期：2024-06-21 |
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