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 Total ionizing dose radiation hardening technology based on double-charge multiple-step ion implantation 基于双电荷多步离子注入的总电离剂量辐射硬化技术
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Jian Wu; Zongguang Yu; Genshen Hong; Xiao Zhiqiang; Luo Jing 出版日期：2023-02-03 |
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