标题 |
![]() 电力电子中键合线失效机理和功率循环寿命的研究进展
相关领域
引线键合
可靠性(半导体)
数码产品
电力电子
债券
材料科学
功率(物理)
复合材料
结构工程
电气工程
工程类
电压
炸薯条
物理
财务
量子力学
经济
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Luhong Xie; Erping Deng; Shaohua Yang; Ying Zhang; Yan Zhong; et al 出版日期:2023-06-15 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|