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State-of-the-art of the bond wire failure mechanism and power cycling lifetime in power electronics 电力电子中键合线失效机理和功率循环寿命的研究进展
相关领域
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Luhong Xie; Erping Deng; Shaohua Yang; Ying Zhang; Yan Zhong; et al 出版日期:2023-06-15 |
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