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 Influence of charge balance on the robustness of trench-based super junction diodes 电荷平衡对沟槽基超级结二极管鲁棒性的影响
相关领域
二极管
稳健性（进化）
光电子学
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：A. Villamor-Baliarda; P. Vanmeerbeek; Michele Riccio; Vincenzo d’Alessandro; Andrea Irace; et al 出版日期：2012-07-20 |
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