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Optical properties of high-Al-content crack free AlxGa1−xN (x<0.67) films grown on Si(111) by molecular-beam epitaxy 分子束生长在Si(111)上的高Al含量无裂缝AlxGa 1-xon(x 0.67)薄膜的光学性质
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期刊:Solid State Communications 作者:F. Natali; David Byrne; M. Leroux; F. Sèmond; J. Massies 出版日期:2004-09-25 |
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