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Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits—Surface Scan Method (Loop Probe Method) 10 MHz to 3 GHz(STABILIZED Sep 2016) J1752/2_201609
集成电路辐射的测量。表面扫描法(环形探针法)10 MHz至3 GHz(2016年9月稳定)J1752/2_201609
相关领域
集成电路
印刷电路板
可用的
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DOI: https://doi.org/10.4271/J1752/2_201609 Issuing Committee: Electromagnetic Compatibility (EMC) Standards Publisher: SAE International Pages: 10 Rationale: To revise the SAE J1752 series of documents for current practice and commonization within the series with the intent of stabilizing these documents. |
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