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 Reliability of 4H-SiC SBD/JBS diodes under repetitive surge current stress 重复浪涌应力下4H-SiC SBD/JBS二极管的可靠性
相关领域
浪涌
二极管
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期刊： 作者：Xing Huang; Gangyao Wang; Meng-Chia Lee; Alex Q. Huang 出版日期：2012-09-01 |
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