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Light-triggered defect dynamics in silicon wafers: understanding degradation mechanisms
硅晶片中的光触发缺陷动力学:理解退化机制
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期刊:Applied physics. A, Materials science & processing 作者:Yougherta Chibane; Y. Kouhlane; D. Bouhafs; Wafa Achour; Asmaa Mohammed-Krarroubi; et al 出版日期:2024-05-01 |
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