标题 |
Low-pass secondary electron detector for outlens scanning electron microscopy
用于外透镜扫描电子显微镜的低通二次电子探测器
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备注 |
用scihub搜doi号出来的文章不是这一篇。
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其它 |
期刊:Japanese journal of applied physics 作者:Takashi Sekiguchi; Hideo Iwaï 出版日期:2015-07-02 |
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