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![]() a-IGZO TFT器件劣化机理——光照光波长和衬底温度的影响
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期刊:Journal of Physics D Applied Physics 作者:Te-Chih Chen; Yue Kuo; Ting‐Chang Chang; Min-Chen Chen; Hua-Mao Chen 出版日期:2017-08-15 |
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