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 Impact behavior of a novel GaN/MoS2 composite photodiode based thin-film by RF-sputtering for fast response photodetection application 用于快速响应光电检测的新型GaN/MoS2复合光电二极管基薄膜的射频溅射冲击行为
相关领域
光探测
光电二极管
光电子学
材料科学
溅射
光电探测器
薄膜
纳米技术
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期刊：Optical and Quantum Electronics 作者：Ahmed Abdelhady A. Khalil; Abdallah M. Karmalawi; Alaaeldin A. Abdelmageed; Hamdan A. S. Al‐shamiri; Emad Mousa; et al 出版日期：2024-03-26 |
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