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 Unambiguous determination of optical constants and thickness of ultrathin films by using optical anisotropic substrates 利用光学各向异性衬底明确测定超薄膜的光学常数和厚度
相关领域
各向异性
材料科学
折射率
椭圆偏振法
薄膜
光学
光学各向异性
极限（数学）
光电子学
基质（水族馆）
等离子体子
联轴节（管道）
反射率
表面等离子体子
量子
凝聚态物理
半导体
耦合常数
检出限
双折射
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| 其它 |
期刊：OPAL (Open@LaTrobe) (La Trobe University) 作者：Schaper, Sebastian; Duwe, Matthias; Wurstbauer, Ursula 出版日期：2025-02-28 |
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