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 A Remaining Useful Life Prediction Method for Insulated-Gate Bipolar Transistor Based on Deep Fusion of Nonlinear Features From Multisource Data 基于多源数据非线性特征深度融合的绝缘栅双极晶体管剩余使用寿命预测方法
相关领域
双极结晶体管
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期刊：IEEE Sensors Journal 作者：Gaige Chen; Xiaoyu Hao; Jun Huang; Hongbo Ma; Xianzhi Wang; et al 出版日期：2024-10-07 |
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