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Depth profiling of Cr-ITO dual-layer sample with secondary ion mass spectrometry using MeV ions in the low energy region
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期刊:Scientific Reports 作者:Marko Barac; Marko Brajković; Zdravko Siketić; Jernej Ekar; Iva Bogdanović Radović; et al 出版日期:2022-07-08 |
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