标题 |
Electrical Characterization of Discrete Defects and Impact of Defect Density on Photoluminescence in Monolayer WS2
相关领域
带隙
激子
二硫化钨
分子物理学
密度泛函理论
量子点
三极管
化学物理
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其它 |
期刊:ACS Nano 作者:Matthew R. Rosenberger; Hsun-Jen Chuang; Kathleen M. McCreary; Connie H. Li; Berend T. Jonker 出版日期:2018-01-11 |
求助人 |
cchen 在
2022-03-29 21:31:48 发布,悬赏 10 积分
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