| 标题 |
  Quantifying nanoscale charge density features of contact-charged surfaces with an FEM/KPFM-hybrid approach 相关领域
开尔文探针力显微镜
材料科学
纳米尺度
电荷密度
接触带电
有限元法
伏打电位
工作职能
显微镜
悬臂梁
电荷（物理）
表面电荷
扫描探针显微镜
纳米技术
原子力显微镜
摩擦电效应
光学
物理
复合材料
热力学
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图层（电子）
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期刊：Physical Review Materials 作者：Felix Pertl; Juan Carlos Sobarzo; Lubuna Shafeek; Tobias Cramer; Scott Waitukaitis 出版日期：2022-12-29 |
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