| 标题 |
The Culture Clash of AI Adoption in Lean Quality Management. Resolving the Tensions at Siemens Electronics Works Amberg |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Information Systems Journal 作者:Benjamin van Giffen; Gunter Beitinger; Helmuth Ludwig; Bill Schiano; Konstantin Schmidt; et al 出版日期:2025-08-05 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)