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  SAM Era: Can It Segment Any Industrial Surface Defects? SAM Era：它能分割任何工业表面缺陷吗？
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期刊：Computers, materials & continua/Computers, materials & continua (Print) 作者：Kechen Song; Wenqi Cui; Yu Han; X Li; Yunhui Yan 出版日期：2024-01-01 |
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