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![]() 基于深度学习的印刷电路板微尺寸缺陷检测与分类混合光学传感器的研制
相关领域
人工智能
印刷电路板
深度学习
分类器(UML)
计算机科学
轮廓仪
模式识别(心理学)
计算机视觉
工程类
机械工程
操作系统
表面光洁度
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DOI | |
其它 |
期刊:Measurement 作者:Gülhan Ustabaş Kaya 出版日期:2022-12-05 |
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