标题 |
Probing Electron Beam Induced Transformations on a Single-Defect Level via Automated Scanning Transmission Electron Microscopy
用自动扫描透射电子显微镜探测单缺陷水平上的电子束诱导转变
相关领域
扫描透射电子显微镜
石墨烯
透射电子显微镜
Atom(片上系统)
电子
材料科学
阴极射线
反射高能电子衍射
电子束诱导沉积
原子物理学
纳米技术
物理
计算机科学
光学
电子衍射
衍射
嵌入式系统
量子力学
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期刊:ACS nano 作者:Kevin M. Roccapriore; Matthew G. Boebinger; Ondrej Dyck; Ayana Ghosh; Raymond R. Unocic; et al 出版日期:2022-10-07 |
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