| 标题 |
 Beyond a single mechanism: Uncovering the dual origin of degradation in β -Ga2O3 SBDs under forward bias stress 相关领域
降级（电信）
肖特基二极管
压力（语言学）
肖特基势垒
噪音（视频）
光电子学
材料科学
不稳定性
二极管
化学
化学物理
深能级瞬态光谱
生物物理学
泄漏（经济）
电流（流体）
瞬态（计算机编程）
热传导
宽禁带半导体
电流密度
光谱学
光谱密度
对偶（语法数字）
凝聚态物理
机制（生物学）
瞬态分析
功率密度
电导率
分析化学（期刊）
应力松弛
导带
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Yingzhe Wang; Xuefeng Zheng; Sijie Bu; Tan Wang; Kang Li; et al 出版日期：2026-03-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
GingerF
牧青
OK
369ninja
Ali
cdercder
DW
老的火龙果
Nole
烬余
YifanWang
贪玩的秋柔
悦耳的怀寒
无极微光
DIVINEDC
Criminology34
搞怪的乐荷
76ers
the_coco
xinbadake
皖公网安备34019202002308
