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  Temperature Dependence and Dynamic Behavior of Full Well Capacity in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors 相关领域
材料科学
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Alice Pelamatti; Jean-Marc Belloir; Camille Messien; Vincent Goiffon; Magali Estribeau; et al 出版日期：2015-02-24 |
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