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 A Novel Degradation Modeling and Prognostic Framework for Closed-Loop Systems With Degrading Actuator 相关领域
控制理论（社会学）
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Xiaosheng Si; Ziqiang Ren; Xiaoxiang Hu; Changhua Hu; Quan Shi 出版日期：2019-11-15 |
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