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DRR-YOLO: A study of Small Target Multi-modal Defect Detection for Multiple Types of Insulators Based on Large Convolution Kernel DRR-YOLO:基于大卷积核的多类型绝缘子小目标多模态缺陷检测研究
相关领域
核(代数)
卷积(计算机科学)
计算机科学
情态动词
人工智能
模式识别(心理学)
数学
材料科学
组合数学
人工神经网络
高分子化学
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| 其它 |
期刊:IEEE Access 作者:Mingming Hu; Jun Liu; Junfu Liu 出版日期:2025-01-01 |
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