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  High-temperature operation of gallium oxide memristors up to 600 K 氧化镓忆阻器高达600 K的高温工作
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期刊：Scientific Reports 作者：Kento Sato; Yusuke Hayashi; Naoki Masaoka; Tetsuya Tohei; Akira Sakai 出版日期：2023-01-30 |
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