标题 |
![]() 用光学方法测量薄膜厚度的综述
相关领域
反射计
材料科学
椭圆偏振法
可靠性(半导体)
干涉测量
薄膜
极化(电化学)
度量(数据仓库)
光电子学
光学
计算机科学
纳米技术
物理
时域
物理化学
功率(物理)
数据库
化学
量子力学
计算机视觉
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:International Journal of Precision Engineering and Manufacturing 作者:Jungjae Park; Yong Jai Cho; Won Chegal; Joonyoung Lee; Yoon-Soo Jang; et al 出版日期:2024-06-22 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|