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 Data-Driven Fault Diagnosis of Internal Short Circuit for Series-Connected Battery Packs Using Partial Voltage Curves 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Informatics 作者：Dongdong Qiao; Xuezhe Wei; Bo Jiang; Wenjun Fan; Hui Gong; et al 出版日期：2024-01-24 |
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