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Space radiation induced failure rate calculation method using energy deposition probability function for high-voltage semiconductor device
基于能量沉积概率函数的高压半导体器件空间辐射引起的故障率计算方法
相关领域
高压 半导体器件 电压 航天器 材料科学 半导体 二极管 可靠性（半导体） 功率（物理） 功率半导体器件 光电子学 计算机科学 电气工程 物理 航空航天工程 纳米技术 工程类 量子力学 图层（电子）
网址
https://doi.org/10.1016/j.mtcomm.2023.105499
AI链接 sciencedirect.comdoi.org
DOI
10.1016/j.mtcomm.2023.105499 doi
其它 期刊：Materials Today Communications
作者：Luvsanbat Khurelbaatar; Turtogtokh Tumenjargal; Begzsuren Tumendemberel; Otgonbaatar Myagmar; Srikanth Gollapudi; et al
出版日期：2023-01-28
求助人
迷你的以珊 在 2025-08-29 00:08:57 发布，悬赏 10 积分
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