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标题
Cross‐Sectional Carrier Lifetime Profiling and Deep Level Monitoring in Silicon Carbide Films Exhibiting Variable Carbon Vacancy Concentrations
具有可变碳空位浓度的碳化硅薄膜中的截面载流子寿命分布和深能级监测
相关领域
深能级瞬态光谱 载流子寿命 退火（玻璃） 空位缺陷 材料科学 分析化学（期刊） 碳化硅 光致发光 硅 外延 杂质 光电子学 化学 结晶学 纳米技术 冶金 有机化学 图层（电子） 色谱法
网址
https://doi.org/10.1002/pssa.202200449
AI链接 handle.net ethz.chdoi.org
DOI
10.1002/pssa.202200449 doi
其它 期刊：physica status solidi (a)
作者：Augustinas Galeckas; Robert Karsthof; Kingsly Gana; Angela Kok; Marianne Etzelmüller Bathen; et al
出版日期：2022-11-11
求助人
彩霞街有才的莲藕 在 2025-08-18 17:28:15 发布，悬赏 10 积分
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