| 标题 |
 Effect of the property of dielectric capping layers on impurity-free vacancy diffusion in InGaAs/InGaAsP MQW structures 介质覆盖层性质对InGaAs/InGaAsP MQW结构中无杂质空位扩散的影响
相关领域
空位缺陷
杂质
扩散
电介质
光电子学
材料科学
化学
凝聚态物理
结晶学
物理
热力学
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Jae Su Yu; Kwan Soo Chung 出版日期：2007-07-19 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
Criminology34
MchemG
精明浩然
yyds
辉辉
wwy
tuanheqi
秀丽小猫咪
关关过
Owen
探索未知的世界
andrele
皮皮
兼听则明
嘿嘿
qing
大龙哥886
汉堡包
Alex
优美紫槐
Qin
反恐分子
小小
子车茗
皖公网安备34019202002308
