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 Damage and optimization of program/erase operation in MANOS 3D NAND flash memory MANOS 3D NAND闪存编程/擦除操作的损坏与优化
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：Yunjie Fan; Zhiqiang Wang; Shengwei Yang; Cong Du; Kun Han; et al 出版日期：2023-06-01 |
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