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 Test Generation for Defect-Based Faults of Scan Flip-Flops 扫描触发器基于缺陷的故障的测试生成
相关领域
扫描链
自动测试模式生成
计算机科学
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期刊： 作者：Yu-Teng Nien; Chenhong Li; P.J. Wu; Y.-C. Wang; Kai–Chiang Wu; et al 出版日期：2023-04-24 |
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