| 标题 |
 Test Generation for Defect-Based Faults of Scan Flip-Flops 扫描触发器基于缺陷的故障的测试生成
相关领域
扫描链
自动测试模式生成
计算机科学
失败
断层（地质）
轻弹
故障覆盖率
算法
实时计算
并行计算
电子线路
工程类
集成电路
化学
电气工程
地质学
操作系统
地震学
细胞凋亡
生物化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊： 作者：Yu-Teng Nien; Chenhong Li; P.J. Wu; Y.-C. Wang; Kai–Chiang Wu; et al 出版日期：2023-04-24 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
BowieHuang
无极微光
幽壑之潜蛟
你嵙这个期刊没买
Twonej
Criminology34
smottom
eric888
CAOHOU
猪猪hero
轨迹
toutou
pluto
快乐滑板
专注的问寒
沉默的倔驴
耍酷的卿
pcr163
CassieBotelho
Mic
萝卜
tuanheqi
拉哈80
YifanWang
皖公网安备34019202002308
