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 High-Resolution Thermoreflectance Imaging Investigation of Self-Heating in AlGaN/GaN HEMTs on Si, SiC, and Diamond Substrates Si、SiC和金刚石衬底上AlGaN/GaN HEMT自加热的高分辨率热反射成像研究
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Assaad El Helou; Pavel L. Komarov; Marko J. Tadjer; Travis J. Anderson; Daniel Francis; et al 出版日期：2020-10-21 |
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