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 TSEM-based contour analysis as a tool for the quantification of the profile roughness of silica shells on polystyrene core particles 基于TSEM的轮廓分析作为定量聚苯乙烯芯颗粒上二氧化硅壳轮廓粗糙度的工具
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期刊：Applied Surface Science 作者：Dominik Sarma; Johannes Mielke; Mario Sahre; Uwe Beck; Vasile‐Dan Hodoroaba; et al 出版日期：2017-07-21 |
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