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 Performances Analysis for Core–Shell Si/In$_{\textit{x}}$Ga$_{\text{1}-{\textit{x}}}$As FinFET $_{\textit{x}}$Ga$_{\text{1}-{\textit{x}}}$As FinFET的核壳Si/In性能分析
相关领域
芯（光纤）
壳体（结构）
材料科学
物理
结晶学
化学
复合材料
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yu-Cheng Lu; Kuan-Lun Chen; Ping Huang; Szu-Hung Chen; Yu Chen; et al 出版日期：2024-08-01 |
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MA
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