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Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy 扫描非线性介电显微镜研究SiO2/SiC界面的局部电容-电压分布和深能级瞬态光谱
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Kohei Yamasue; Yasuo Cho 出版日期:2022-06-11 |
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