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 Probing the onset of wurtzite phase formation in (V,Al)N thin films by transmission electron microscopy and atom probe tomography 用透射电子显微镜和原子探针层析成像探测（V，Al）N薄膜中纤锌矿相形成的开始
相关领域
纤锌矿晶体结构
材料科学
原子探针
结晶学
退火（玻璃）
晶界
透射电子显微镜
溅射沉积
扫描透射电子显微镜
薄膜
微观结构
纳米技术
化学
溅射
冶金
锌
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期刊：Surface and Coatings Technology 作者：Marcus Hans; Zsolt Czigány; Deborah Neuß; Janis A. Sälker; Holger Rueß; et al 出版日期：2022-02-10 |
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