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 Gate Dielectrics Integration for 2D Electronics: Challenges, Advances, and Outlook 2D电子学的栅极介质集成：挑战、进展与展望
相关领域
材料科学
纳米技术
数码产品
电介质
工程物理
光电子学
电气工程
工程类
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期刊：Advanced Materials 作者：Sijie Yang; Kailang Liu; Yongshan Xu; Lixin Liu; Huiqiao Li; et al 出版日期：2022-10-13 |
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