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A 69.5 mW 20 GS/s 6b Time-Interleaved ADC With Embedded Time-to-Digital Calibration in 32 nm CMOS SOI
32 nm CMOS SOI 69.5 mW 20GS/s 6b时间交错ADC
相关领域
CMOS芯片
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期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits 作者:Vanessa Hung-Chu Chen; Lawrence T. Pileggi 出版日期:2014-12-01 |
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