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Characteristics of HfO2 Thin Film Capacitor Deposited by RF Magnetron Sputtering 射频磁控溅射制备HfO2薄膜电容器的特性
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期刊:Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics 作者:Yang Gyu Bak; Ji Woon Park; Hee Young Lee 出版日期:2021-06-01 |
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