| 标题 |
  Temperature Distribution in TaOx Resistive Switching Devices Assessed In Operando by Scanning Thermal Microscopy 相关领域
扫描热显微术
材料科学
显微镜
扫描电子显微镜
热的
扫描探针显微镜
电阻式触摸屏
光电子学
分析化学（期刊）
纳米技术
原子力显微镜
化学
光学
电气工程
复合材料
物理
热力学
工程类
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Jingjia Meng; Jonathan M. Goodwill; Evgheni Strelcov; Kefei Bao; Jabez J. McClelland; et al 出版日期：2023-04-10 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
null
Criminology34
yyds
MchemG
andrele
叶上
无极微光
叽了咕噜
YifanWang
笔记本
tuanheqi
荼黎
mmyhn
皮皮
辉辉
精明浩然
Tourist
Hayat
子车茗
什么时候能毕业
Alex
风清扬
asta
从容芮
皖公网安备34019202002308
